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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering)

Name: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering)
Brand: Xiao Liu
SKU: 2689495

Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2013, Label : Springer, Publisher : Springer, PackageQuantity : 1, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 108, publicationDate : 2013-06-27, authors : Xiao Liu, Qiang Xu, languages : english, ISBN : 3319005324

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