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Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität (Informatik-Fachberichte, 173, Band 173)

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Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität (Informatik-Fachberichte, 173, Band 173)

Brand : Springer, Binding : Taschenbuch, Edition : 1, Label : Springer Berlin Heidelberg, Publisher : Springer Berlin Heidelberg, medium : Taschenbuch, numberOfPages : 180, publicationDate : 1988-01-01, authors : Schulz, Michael H., ISBN : 3540500510

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