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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing, 3, Band 3)

Brand : Springer, Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 1995, Label : Springer, Publisher : Springer, NumberOfItems : 1, PackageQuantity : 1, Format : Illustriert, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 221, publicationDate : 1995-11-30, releaseDate : 1995-11-30, authors : F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts, A.P. Thijssen, ISBN : 0792396588

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