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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing) (Frontiers in Electronic Testing, 3, Band 3)

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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing) (Frontiers in Electronic Testing, 3, Band 3)

Brand : Springer, Binding : Taschenbuch, Edition : 1995, Label : Springer, Publisher : Springer, medium : Taschenbuch, numberOfPages : 228, publicationDate : 2014-04-30, releaseDate : 2014-04-30, authors : Frans Beenker, ISBN : 1461360048

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