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Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

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Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2007, Label : Springer, Publisher : Springer, NumberOfItems : 1, PackageQuantity : 1, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 980, publicationDate : 2006-12-29, authors : Kalinin, Sergei V., Alexei Gruverman, languages : english, ISBN : 0387286675

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