Direkt zum Inhalt
Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology)

AKTUELLE PARTNERANGEBOTE

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology)

Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2015, Label : Springer, Publisher : Springer, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 382, publicationDate : 2015-03-23, authors : Bert Voigtlaender, languages : english, ISBN : 3662452391

1 Angebote · ab 176,98 € gemeldete Gesamtkosten