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Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology)
Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2015, Label : Springer, Publisher : Springer, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 382, publicationDate : 2015-03-23, authors : Bert Voigtlaender, languages : english, ISBN : 3662452391
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