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Name: Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Brand: Springer
SKU: 5856427

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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications. Jacopo Franco/ Guido Groeseneken/ Ben Kaczer. Taschenbuch. Taschenbuch

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