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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B, Band 22)

Name: Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B, Band 22)
Brand: Nicola Nicolici
SKU: 723416

Brand : Springer, Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2003, Label : Springer, Publisher : Springer, Format : Illustriert, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 189, publicationDate : 2003-02-28, authors : Nicola Nicolici, Al-Hashimi, Bashir M., ISBN : 140207235X

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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B, Band 22)