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Power- And Thermal-Aware Testing of System-on-Chip

Name: Power- And Thermal-Aware Testing of System-on-Chip
Brand: Rajit Karmakar
SKU: 3594222

Binding : Taschenbuch, Edition : 01, Label : LAP LAMBERT Academic Publishing, Publisher : LAP LAMBERT Academic Publishing, medium : Taschenbuch, numberOfPages : 148, publicationDate : 2017-03-16, releaseDate : 2017-03-16, authors : Rajit Karmakar, ISBN : 3330017171

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