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Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield
Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2012, Label : Springer, Publisher : Springer, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 172, publicationDate : 2012-09-27, authors : Mohamed Abu Rahma, Mohab Anis, languages : english, ISBN : 1461417481
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