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Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies

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Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies

Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2006, Label : Springer, Publisher : Springer, PackageQuantity : 1, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 137, publicationDate : 2005-12-19, authors : Mohamed Elgamel, Magdy Bayoumi, languages : english, ISBN : 0387258701

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