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IDDQ Testing of VLSI Circuits (Kluwer International Series in Engineering & Computer Science)

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IDDQ Testing of VLSI Circuits (Kluwer International Series in Engineering & Computer Science)

Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 1993, Label : Springer, Publisher : Springer, NumberOfItems : 1, PackageQuantity : 1, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 124, publicationDate : 1992-12-31, publishers : Gulati, Ravi K., Hawkins, Charles F., languages : english, ISBN : 0792393155

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