Direkt zum Inhalt
Инженерия дефектов в технологии полупроводников: Физические основы в технологии кремниевых приборов: Fizicheskie osnowy w tehnologii kremniewyh priborow

AKTUELLE PARTNERANGEBOTE

Инженерия дефектов в технологии полупроводников: Физические основы в технологии кремниевых приборов: Fizicheskie osnowy w tehnologii kremniewyh priborow

Brand : LAP Lambert Academic Publishing, Binding : Taschenbuch, Label : LAP LAMBERT Academic Publishing, Publisher : LAP LAMBERT Academic Publishing, medium : Taschenbuch, numberOfPages : 252, publicationDate : 2011-07-14, releaseDate : 2011-07-14, authors : Николай Соболев, ISBN : 3844359397

1 Angebote · ab 70,14 € gemeldete Gesamtkosten