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Ellipsometry at the Nanoscale

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Ellipsometry at the Nanoscale

Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2013, Label : Springer, Publisher : Springer, PackageQuantity : 1, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 730, publicationDate : 2013-03-28, publishers : Maria Losurdo, Kurt Hingerl, languages : english, ISBN : 3642339557

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