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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Premier Reference Source)

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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Premier Reference Source)

Brand : Information Science Reference, Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : Illustrated, Label : Information Science Reference, Publisher : Information Science Reference, Format : Illustriert, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 580, publicationDate : 2010-10-30, publishers : Jaan Raik, Raimund Ubar, Vierhaus, Heinrich Theodor, ISBN : 1609602129

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