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Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 2, Band 2)

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Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 2, Band 2)

Brand : Springer, Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2000, Label : Springer, Publisher : Springer, PackageQuantity : 1, Format : Illustriert, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 632, publicationDate : 2000-12-31, publishers : Gianfranco Pacchioni, Linards Skuja, Griscom, David L., ISBN : 0792366859

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