AKTUELLE PARTNERANGEBOTE

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

Name: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Brand: Manoj Sachdev
SKU: 11747938

Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2nd ed. 2007, Label : Springer, Publisher : Springer, PackageQuantity : 1, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 328, publicationDate : 2007-06-04, authors : Manoj Sachdev, Jose Pineda De Gyvez, languages : english, ISBN : 0387465464

1 Angebote · ab 187,98 € gemeldete Gesamtkosten

Gute Entscheidungen beginnen mit einem guten Vergleich.

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)