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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31, Band 31)

Name: Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31, Band 31)
Brand: Huisman, Leendert M.
SKU: 11747529

Brand : Springer, Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2005, Label : Springer, Publisher : Springer, NumberOfItems : 1, PackageQuantity : 3, Format : Illustriert, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 270, publicationDate : 2005-06-21, releaseDate : 2005-06-21, authors : Huisman, Leendert M., ISBN : 0387249931

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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31, Band 31)