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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization (NanoScience and Technology)

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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization (NanoScience and Technology)

Brand : Springer, Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2006, Label : Springer, Publisher : Springer, PackageQuantity : 2, Format : Illustriert, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 422, publicationDate : 2006-02-22, releaseDate : 2005-12-16, publishers : Bharat Bhushan, Harald Fuchs, ISBN : 3540269096

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