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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie. H. J. Dudek/ Maria F. Ebel/ M. Grasserbauer. Taschenbuch. Taschenbuch

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