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Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience

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Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience

Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 1st ed. 2017, Label : Springer, Publisher : Springer, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 729, publicationDate : 2016-11-24, authors : Zuo, Jian Min, Spence, John C.H., languages : english, ISBN : 1493966057

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