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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 1st ed. 2024, Label : Springer, Publisher : Springer, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 390, publicationDate : 2024-02-07, releaseDate : 2024-02-07, authors : Fangzhou Xia, Rangelow, Ivo W., Kamal Youcef-Toumi, ISBN : 3031442326
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