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Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen (Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung)

Name: Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen (Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung)
Brand: Negara, Christian Emanuel
SKU: 5714778

Binding : Taschenbuch, Label : KIT Scientific Publishing, Publisher : KIT Scientific Publishing, medium : Taschenbuch, numberOfPages : 326, publicationDate : 2023-07-14, authors : Negara, Christian Emanuel, ISBN : 3731513021

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Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen (Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung)